High-speed backside wafer coating process from DEK

Teradyne（纽约证交所代码：TER）宣布半导体测试和装配解决方案的主要独立供应商UTAC（联合测试与装配中心公司）已经接收具备各种Teradyne Gen4微波测试能力的多功能Teradyne FLEX(TM)测试系统。该系统包括来自不连续的RF IC到RF系统单芯片应用（RF SOC）的RF设备的全光谱。FLEX系统是UTAC新加坡和上海生产设施的不同客户的测试设备，大大地加强了公司的测试能力和市场份额。

UTAC集团公司测试和开发副总裁CK Tan说："FLEX系统及其Gen4微波测试能力使我们能够更大范围的解决无线产品高集成应用，包括细胞无线电收发器、无限局域网、蓝牙和全球定位系统。将设备快速地运用到我们FLEX系统的生产中已为满足我们客户重要的生产里程碑做出了贡献。"

Teradyne半导体测试无线业务部的总经理David Trounson说："UTAC是Teradyne的长期客户，始终重视能够使其客户充满信心地开发新一代设备以及使最低测试成本成为可能的测试系统。FLEX结构和Gen4微波能力将帮助UTAC满足最新无线设备苛刻的测试要求。"